| 19036繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀 |
| 作者:admin 來(lái)源:原創(chuàng) 發(fā)布日期:2013-8-9 17:06:08 點(diǎn)擊次數(shù):2770 |
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19036 繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀 主要特色: · 五合一安規(guī)掃描分析儀 (AC / DC/ IR / IWT / DCR) · 5kV AC/6kV DC 耐壓測(cè)試 · 5kV 絕緣電阻測(cè)試(IR) · 繞線元件脈衝測(cè)試 (IWT) · 脈衝測(cè)試高取樣率(200MHz) · 10通道四線 DCR測(cè)試 · Δ型/Y型馬達(dá)阻抗計(jì)算 · HSCC 高速接觸檢查 · 支援最大40通道掃描測(cè)試 · 繁中/ 簡(jiǎn)中 / 英文操作介面 · USB波形儲(chǔ)存& 畫(huà)面擷取功能 · 圖形化彩色顯示 · 標(biāo)準(zhǔn)LAN,USB,RS232介面 · GFI人體保護(hù)電路 Chroma 19036為業(yè)界首創(chuàng)結(jié)合脈衝測(cè)試及耐 壓分析於單機(jī)的繞線元件脈衝測(cè)試設(shè)備,擁有 5kVac/6kVdc高壓輸出、6kV層間短路脈衝電壓與 直流電阻測(cè)試。符合繞線元件測(cè)試需求且提供多 通道掃描測(cè)試,單機(jī)10通道輸出可達(dá)成一次多顆 掃描測(cè)試,節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本。 繞線元件的測(cè)試項(xiàng)目包含AC/DC耐壓測(cè)試、IR絕 緣電阻測(cè)試、繞線元件脈衝測(cè)試(IWT)及直流電 阻(DCR)。將以上各項(xiàng)測(cè)試整合於19036繞線元件 電氣安規(guī)掃描分析儀,可針對(duì)馬達(dá)、變壓器、電 熱絲、電磁閥等相關(guān)繞線產(chǎn)品進(jìn)行安規(guī)測(cè)試,讓 繞線元件生產(chǎn)廠商及使用者在品質(zhì)驗(yàn)證時(shí),不但 擁有可靠的測(cè)試品質(zhì),能更有效率為產(chǎn)品品質(zhì)把 關(guān)。 線圈自體絕緣不良通常是造成線圈於使用環(huán)境中 發(fā)生層間短路、跨線短路、出腳短路之根源。 其形成原因可能源於初始設(shè)計(jì)不良、加工製程不 良,或絕緣材料之劣化等所引起,故在電氣安規(guī) 測(cè)試製程中加入線圈層間短路測(cè)試,即可多組繞 組一次掃描測(cè)試完成,進(jìn)一步的提升繞線元件品 質(zhì)。 19036結(jié)合層間短路測(cè)試功能,具備6kV脈衝電 壓,擁有波形面積比較、波形差面積比較、波形 顫動(dòng)偵測(cè)(Flutter)及波形二階微分偵測(cè)(Laplacian) 等判定,提供線圈自體絕緣不良有效的檢測(cè)方 法。 19036專(zhuān)利設(shè)計(jì)四線直流電阻量測(cè)接口,包含 Drive 與 Sense並符合耐壓規(guī)格,可提供10通道的 四線直流電阻量測(cè)與溫度補(bǔ)償功能。另可同時(shí)搭 配16通道掃描盒最多可達(dá)到40通道掃描測(cè)試 。 19036提供高速接觸檢查(HSCC)功能,快速掃描確 認(rèn)多個(gè)繞組連接是否正常,解決繞線元件接觸不 良而導(dǎo)致測(cè)試失敗的問(wèn)題。 馬達(dá)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如UL 1004-1,需求高功率的安規(guī) 綜合測(cè)試儀。Chroma 19036其具有輸出及量測(cè) AC100mA/DC 20mA的能力。對(duì)於漏電流較大或 大型設(shè)備電氣安規(guī)測(cè)試的使用者,高功率的耐壓 測(cè)試與其他安規(guī)測(cè)試整合於一臺(tái)綜合測(cè)試儀,將 為產(chǎn)線及品保驗(yàn)證帶來(lái)最大的效益,500VA的設(shè) 計(jì)也符合IEC/UL對(duì)輸出功率的要求。 產(chǎn)品應(yīng)用 △與Y型馬達(dá)繞組 △與Y型馬達(dá)繞組 40通道掃描測(cè)試
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